Cristalización y morfología superficial de películas delgadas de Ag/SiO2 tratadas térmicamente
En este trabajo se estudia las propiedades estructurales y morfológicas de las películas delgadas de plata de 60 nm de espesor, depositadas sobre sustrato de SiO2 y tratadas térmicamente a distintas temperaturas desde 250 hasta 1000℃. Se ha encontrado que al incrementar la temperatura de recocido, l...
Enregistré dans:
| Auteurs principaux: | , , , , |
|---|---|
| Format: | Artigo |
| Langue: | Inglês |
| Publié: |
Instituto de Investigación de Física
2015-12-01
|
| Collection: | Revista de Investigación de Física |
| Sujets: | |
| Accès en ligne: | https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/11580 |
| Tags: |
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|