Lateral Force Calibration Method Used for Calibration of Atomic Force Microscope
Modern heterogeneous micro- and nanostructures usually integrate modules fabricated using various materials and technologies. Moreover, it has to be emphasized that the macro and micro nanoscale material parameters are not the same. For this reason it has become crucial to identify the nanomechanic...
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , |
|---|---|
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
National Institute of Telecommunications
2023-06-01
|
| سلاسل: | Journal of Telecommunications and Information Technology |
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://jtit.pl/jtit/article/view/985 |
| الوسوم: |
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|