Mitigation of Electro Magnetic Interference by Using C-Shaped Composite Cylindrical Device

The extremely low-frequency (ELF) and its corresponding electromagnetic field influences the yield of CMOS processes in the foundry, especially for high-end equipment such as scanning electron microscopy (SEM) systems, transmission electron microscopy (TEM) systems, focused ion beam (FIB) systems, a...

সম্পূর্ণ বিবরণ

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন

প্রধান লেখক:	Yu-Lin Song, Manoj Kumar Reddy, Hung-Yung Wen, Luh-Maan Chang
বিন্যাস:	Artigo
ভাষা:	Inglês
প্রকাশিত:	MDPI AG 2022-01-01
মালা:	Applied Sciences
বিষয়গুলি:	permalloy composite material extremely low frequency electromagnetic interference C-shaped cylindrical device
অনলাইন ব্যবহার করুন:	https://www.mdpi.com/2076-3417/12/2/882
ট্যাগগুলো:	ট্যাগ যুক্ত করুন কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!