Ion Migration and Space‐Charge Zones in Metal Halide Perovskites Through Short‐Circuit Transient Current and Numerical Simulations

Abstract The inherent ion migration in metal halide perovskite materials is known to induce deleterious and highly unstable dark currents in X‐ and γ‐ray detectors based on those compounds upon bias application. Dark current slow drift with time is identified as one of the major drawbacks for these...

Повний опис

Бібліографічні деталі

Автори:	Agustin O. Alvarez, Marisé García‐Batlle, Ferdinand Lédée, Eric Gros‐Daillon, Javier Mayén Guillén, Jean‐Marie Verilhac, Thibault Lemercier, Julien Zaccaro, Lluis F. Marsal, Osbel Almora, Germà Garcia‐Belmonte
Формат:	Artigo
Мова:	Inglês
Опубліковано:	Wiley-VCH 2024-11-01
Серія:	Advanced Electronic Materials
Предмети:	charge carrier mobility drift‐diffusion simulations ionic conductivity metal halide perovskites x‐ray detectors
Онлайн доступ:	https://doi.org/10.1002/aelm.202400241
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!