Defect Density and Electrical Properties of Vacuum Evaporated Copper Films From Annealing Studies of Electrical Resistance
Guardat en:
| Autors principals: | , , |
|---|---|
| Format: | Artigo |
| Idioma: | Inglês |
| Publicat: |
Wiley
1982-01-01
|
| Col·lecció: | Active and Passive Electronic Components |
| Accés en línia: | http://dx.doi.org/10.1155/APEC.9.171 |
| Etiquetes: |
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
|