Defect Density and Electrical Properties of Vacuum Evaporated Copper Films From Annealing Studies of Electrical Resistance
Αποθηκεύτηκε σε:
| Κύριοι συγγραφείς: | , , |
|---|---|
| Μορφή: | Artigo |
| Γλώσσα: | Inglês |
| Έκδοση: |
Wiley
1982-01-01
|
| Σειρά: | Active and Passive Electronic Components |
| Διαθέσιμο Online: | http://dx.doi.org/10.1155/APEC.9.171 |
| Ετικέτες: |
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|