3D CNN and grad-CAM based visualization for predicting generation of dislocation clusters in multicrystalline silicon
We propose a machine learning-based technique to address the crystallographic characteristics responsible for the generation of crystal defects. A convolutional neural network was trained with pairs of optical images that display the characteristics of the crystal and photoluminescence images that s...
சேமிக்கப்பட்டது:
| முதன்மை ஆசிரியர்கள்: | , , , , |
|---|---|
| வடிவம்: | Artigo |
| மொழி: | Inglês |
| வெளியிடப்பட்டது: |
AIP Publishing LLC
2023-09-01
|
| தொடர்: | APL Machine Learning |
| ஆன்லைன் அணுகல்: | http://dx.doi.org/10.1063/5.0156044 |
| குறிச்சொற்கள்: |
டாக்ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!
|