Defect Complexes in CrSBr Revealed Through Electron Microscopy and Deep Learning

Atomic defects underpin the properties of van der Waals materials, and their understanding is essential for advancing quantum and energy technologies. Scanning transmission electron microscopy is a powerful tool for defect identification in atomically thin materials, and extending it to multilayer a...

وصف كامل

التفاصيل البيبلوغرافية

المؤلفون الرئيسيون:	Mads Weile, Sergii Grytsiuk, Aubrey Penn, Daniel G. Chica, Xavier Roy, Kseniia Mosina, Zdenek Sofer, Jakob Schiøtz, Stig Helveg, Malte Rösner, Frances M. Ross, Julian Klein
التنسيق:	Artigo
اللغة:	Inglês
منشور في:	American Physical Society 2025-06-01
سلاسل:	Physical Review X
الوصول للمادة أونلاين:	http://doi.org/10.1103/PhysRevX.15.021080
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!