Transcriptional coupling (Mfd) and DNA damage scanning (DisA) coordinate excision repair events for efficient Bacillus subtilis spore outgrowth

Abstract The absence of base excision repair (BER) proteins involved in processing ROS‐promoted genetic insults activates a DNA damage scanning (DisA)‐dependent checkpoint event in outgrowing Bacillus subtilis spores. Here, we report that genetic disabling of transcription‐coupled repair (TCR) or nu...

وصف كامل

التفاصيل البيبلوغرافية

المؤلفون الرئيسيون:	Luz I. Valenzuela‐García, Víctor M. Ayala‐García, Ana G. Regalado‐García, Peter Setlow, Mario Pedraza‐Reyes
التنسيق:	Artigo
اللغة:	Inglês
منشور في:	Wiley 2018-10-01
سلاسل:	MicrobiologyOpen
الموضوعات:	Bacillus subtilis DisA germination/outgrowth NER TCR
الوصول للمادة أونلاين:	https://doi.org/10.1002/mbo3.593
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!