Artificial Neural Network Assisted Error Correction for MLC NAND Flash Memory
The multilevel per cell technology and continued scaling down process technology significantly improves the storage density of NAND flash memory but also brings about a challenge in that data reliability degrades due to the serious noise. To ensure the data reliability, many noise mitigation technol...
சேமிக்கப்பட்டது:
| முதன்மை ஆசிரியர்கள்: | , , , |
|---|---|
| வடிவம்: | Artigo |
| மொழி: | Inglês |
| வெளியிடப்பட்டது: |
MDPI AG
2021-07-01
|
| தொடர்: | Micromachines |
| பொருள்கள்: | |
| ஆன்லைன் அணுகல்: | https://www.mdpi.com/2072-666X/12/8/879 |
| குறிச்சொற்கள்: |
டாக்ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!
|