Mapping of Nanomechanical Properties of Enamel Surfaces Due to Orthodontic Treatment by AFM Method
Background: Atomic force microscopy imaging was used to study the structural topography of enamel crystals in healthy and affected enamel. The correlation of topographic images with nanomechanical properties allows for the assessment of morphology and properties at the micro- and nano-meter level in...
Պահպանված է:
| Հիմնական հեղինակներ: | , , , , , |
|---|---|
| Ձևաչափ: | Artigo |
| Լեզու: | Inglês |
| Հրապարակվել է: |
MDPI AG
2021-04-01
|
| Շարք: | Applied Sciences |
| Խորագրեր: | |
| Առցանց հասանելիություն: | https://www.mdpi.com/2076-3417/11/9/3918 |
| Ցուցիչներ: |
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|