Correction: AFM-IR investigation of thin PECVD SiOx films on a polypropylene substrate in the surface-sensitive mode
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | , , , , |
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| Format: | Artigo |
| Sprache: | Inglês |
| Veröffentlicht: |
Beilstein-Institut
2025-02-01
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| Schriftenreihe: | Beilstein Journal of Nanotechnology |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | https://doi.org/10.3762/bjnano.16.19 |
| Tags: |
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