Structural characterisation of Cu-Zr thin film combinatorial libraries with synchrotron radiation at the limit of crystallinity

We report for the first-time combinatorial synthesis of thin film metallic glass libraries via magnetron co-sputtering at the limit of crystallinity. Special care was taken to prepare extremely pure CuZr films (1–2 µm thickness) with large compositional gradients (Cu18.2Zr81.8 to Cu74.8Zr25.2) on X-...

Szczegółowa specyfikacja

Opis bibliograficzny

Główni autorzy:	B. Putz, O. Milkovič, G. Mohanty, R. Ipach, L. Pethö, J. Milkovičová, X. Maeder, T.E.J. Edwards, P. Schweizer, M. Coduri, K. Saksl, J. Michler
Format:	Artigo
Język:	Inglês
Wydane:	Elsevier 2022-06-01
Seria:	Materials & Design
Hasła przedmiotowe:	Combinatorial materials science Magnetron sputtering Thin film metallic glass X-ray diffraction TEM Structure analysis
Dostęp online:	http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0264127522002969
Etykiety:	Dodaj etykietę Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!