Integrated diagnosis optimization design of the electronic equipment based on spatial mapping
The complexity of test and fault information within electronic devices makes their integrated diagnosis a challenging problem when designing equipment reliability. Current integrated diagnosis is analyzed for test optimization and test resource optimization. However, this neglects the connection bet...
Պահպանված է:
| Հիմնական հեղինակներ: | , |
|---|---|
| Ձևաչափ: | Artigo |
| Լեզու: | Inglês |
| Հրապարակվել է: |
SAGE Publishing
2024-10-01
|
| Շարք: | Science Progress |
| Առցանց հասանելիություն: | https://doi.org/10.1177/00368504241285770 |
| Ցուցիչներ: |
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|