All About the Interface: Do Residual Contaminants at A High‐Quality h‐BN Monolayer Perylene Diimide Interface Cause Charge Trapping?

Abstract Intrinsic charge transport in molecularly thin organic semiconducting crystals is critically sensitive to the quality of the interfaces required to perform the electrical measurements. Most prominent are the dielectric–semiconductor and semiconductor–metal interface. While impacts from the...

وصف كامل

التفاصيل البيبلوغرافية

المؤلفون الرئيسيون:	Lukas Renn, Lisa S. Walter, Kenji Watanabe, Takashi Taniguchi, R. Thomas Weitz
التنسيق:	Artigo
اللغة:	Inglês
منشور في:	Wiley-VCH 2022-04-01
سلاسل:	Advanced Materials Interfaces
الموضوعات:	charge transport field‐effect transistor interface organic semiconductor van‐der‐Waals
الوصول للمادة أونلاين:	https://doi.org/10.1002/admi.202101701
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!