Efficient flexible characterization of quantum processors with nested error models
We present a simple and powerful technique for finding a good error model for a quantum processor. The technique iteratively tests a nested sequence of models against data obtained from the processor, and keeps track of the best-fit model and its wildcard error (a metric of the amount of unmodeled e...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রধান লেখক: | , , , , |
|---|---|
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
IOP Publishing
2021-01-01
|
| মালা: | New Journal of Physics |
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://doi.org/10.1088/1367-2630/ac20b9 |
| ট্যাগগুলো: |
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|