Efficient flexible characterization of quantum processors with nested error models
We present a simple and powerful technique for finding a good error model for a quantum processor. The technique iteratively tests a nested sequence of models against data obtained from the processor, and keeps track of the best-fit model and its wildcard error (a metric of the amount of unmodeled e...
சேமிக்கப்பட்டது:
| முதன்மை ஆசிரியர்கள்: | , , , , |
|---|---|
| வடிவம்: | Artigo |
| மொழி: | Inglês |
| வெளியிடப்பட்டது: |
IOP Publishing
2021-01-01
|
| தொடர்: | New Journal of Physics |
| பொருள்கள்: | |
| ஆன்லைன் அணுகல்: | https://doi.org/10.1088/1367-2630/ac20b9 |
| குறிச்சொற்கள்: |
டாக்ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!
|