Spiking test-based evaluation of semiconductor wastewater reuse process under shock-loading conditions: Removal of TMAH and metal(loid) contaminants

Stable treatment performance is essential for semiconductor wastewater reuse systems under shock-loading conditions. This study evaluated the removal behavior of tetramethylammonium hydroxide (TMAH) and selected metal(loid)s in a lab-scale semiconductor wastewater reuse system consisting of coagulat...

முழு விளக்கம்

நூற்பட்டியல் விவரங்கள்

முதன்மை ஆசிரியர்கள்:	Deokhwan Kim, Jonghun Lee, Jeonghoo Sim, Yuying Liu, Byung-Moon Jun, June-Seok Choi, Hojung Rho
வடிவம்:	Artigo
மொழி:	Inglês
வெளியிடப்பட்டது:	Elsevier 2026-04-01
தொடர்:	Desalination and Water Treatment
பொருள்கள்:	Semiconductor wastewater reuse Shock loading Tetramethylammonium hydroxide Metal(loid)s
ஆன்லைன் அணுகல்:	http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1944398626001463
குறிச்சொற்கள்:	குறிச்சொல்லை சேர்க்கவும் டாக்‌ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!