Scanning Electron Microscopy
Today, an individual would be hard-pressed to find any science field that does not employ methods and instruments based on the use of fine focused electron and ion beams. Well instrumented and supplemented with advanced methods and techniques, SEMs provide possibilities not only of surface imaging b...
சேமிக்கப்பட்டது:
| நிறுவன ஆசிரியர்: | |
|---|---|
| வடிவம்: | Livro |
| மொழி: | Inglês |
| வெளியிடப்பட்டது: |
IntechOpen
2012
|
| பொருள்கள்: | |
| ஆன்லைன் அணுகல்: | https://directory.doabooks.org/handle/20.500.12854/129145 |
| குறிச்சொற்கள்: |
டாக்ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!
|