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Optical Element Surface Defect Size Recognition Based on Decision Regression Tree
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Pin Cao
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Danhui Zhang
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Yongying
Yang
Publicado em 2020-09-01
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Calibration and Image Reconstruction in a Spot Scanning Detection System for Surface Defects
Por
Fan Wu
,
Pin Cao
,
Yubin Du
,
Haotian Hu
,
Yongying
Yang
Publicado em 2020-04-01
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