1
2
por K. Garane, M.-E. Koukouli, T. Verhoelst, C. Lerot, K.-P. Heue, V. Fioletov, D. Balis, A. Bais, A. Bazureau, A. Dehn, F. Goutail, J. Granville, D. Griffin, D. Hubert, A. Keppens, J.-C. Lambert, D. Loyola, C. McLinden, A. Pazmino, J.-P. Pommereau, A. Redondas, F. Romahn, P. Valks, M. Van Roozendael, J. Xu, C. Zehner, C. Zerefos, W. Zimmer
Publicado em 2019-10-01
Obter o texto integralPublicado em 2019-10-01
Artigo
3
por Hubert, D., Lambert, J.-C., Verhoelst, T., Granville, J., Keppens, A., Baray, J.-L., Cortesi, U., Degenstein, D. A., Froidevaux, L., Godin-Beekmann, S., Hoppel, K. W., Kyrölä, E., Leblanc, T., Lichtenberg, G., McElroy, C. T., Murtagh, D., Nakane, H., Querel, R., Russell, J. M., Salvador, J., Smit, H. G. J., Stebel, K., Steinbrecht, W., Strawbridge, K. B., Stübi, R., Swart, D. P. J., Taha, G., Thompson, A. M., Urban, J., van Gijsel, J. A. E., von der Gathen, P., Walker, K. A., Wolfram, E., Zawodny, J. M.
Publicado no Atmos Meas Tech (2016)
Obter o texto integralPublicado no Atmos Meas Tech (2016)
Obter o texto integral
Obter o texto integral
Artigo