1
Por G. Ancellet, S. Godin-Beekmann, H. G. J. Smit, R. M. Stauffer, R. Van Malderen, R. Bodichon, A. Pazmiño
Publicado em 2022-05-01
Obter o texto integralPublicado em 2022-05-01
Artigo
2
Por T. Leblanc, R. J. Sica, J. A. E. van Gijsel, S. Godin-Beekmann, A. Haefele, T. Trickl, G. Payen, G. Liberti
Publicado em 2016-08-01
Obter o texto integralPublicado em 2016-08-01
Artigo
3
Por E. J. Brinksma, A. Bracher, D. E. Lolkema, D. E. Lolkema, A. J. Segers, I. S. Boyd, K. Bramstedt, H. Claude, S. Godin-Beekmann, G. Hansen, G. Kopp, T. Leblanc, I. S. McDermid, Y. J. Meijer, H. Nakane, A. Parrish, C. von Savigny, K. Stebel, D. P. J. Swart, G. Taha, G. Taha, A. J. M. Piters
Publicado em 2006-01-01
Obter o texto integralPublicado em 2006-01-01
Artigo
4
Por Hubert, D., Lambert, J.-C., Verhoelst, T., Granville, J., Keppens, A., Baray, J.-L., Cortesi, U., Degenstein, D. A., Froidevaux, L., Godin-Beekmann, S., Hoppel, K. W., Kyrölä, E., Leblanc, T., Lichtenberg, G., McElroy, C. T., Murtagh, D., Nakane, H., Querel, R., Russell, J. M., Salvador, J., Smit, H. G. J., Stebel, K., Steinbrecht, W., Strawbridge, K. B., Stübi, R., Swart, D. P. J., Taha, G., Thompson, A. M., Urban, J., van Gijsel, J. A. E., von der Gathen, P., Walker, K. A., Wolfram, E., Zawodny, J. M.
Publicado no Atmos Meas Tech (2016)
Obter o texto integralPublicado no Atmos Meas Tech (2016)
Obter o texto integral
Obter o texto integral
Artigo