1
по Mulrow, C D, Chiquette, E, Ferrer, R L, Sibai, B M, Stevens, K R, Harris, M, Montgomery, K A, Stamm, K
Опубликовано в: Evid Rep Technol Assess (Summ) (2000)
Полный текстОпубликовано в: Evid Rep Technol Assess (Summ) (2000)
Полный текст
Artigo