1
2
Por Maclean, C H, Issa, A M, Newberry, S J, Mojica, W A, Morton, S C, Garland, R H, Hilton, L G, Traina, S B, Shekelle, P G
Publicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (2005)
Obter o texto integralPublicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (2005)
Obter o texto integral
Artigo
3
Por Shekelle, P, Hardy, M L, Morton, S C, Maglione, M, Suttorp, M, Roth, E, Jungvig, L, Mojica, W A, Gagné, J, Rhodes, S, McKinnon, E
Publicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (2003)
Obter o texto integralPublicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (2003)
Obter o texto integral
Artigo
4
Por MacLean, C H, Mojica, W A, Morton, S C, Pencharz, J, Hasenfeld Garland, R, Tu, W, Newberry, S J, Jungvig, L K, Grossman, J, Khanna, P, Rhodes, S, Shekelle, P
Publicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (2004)
Obter o texto integralPublicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (2004)
Obter o texto integral
Artigo
5
Por Maclean, C H, Newberry, S J, Mojica, W A, Issa, A, Khanna, P, Lim, Y W, Morton, S C, Suttorp, M, Tu, W, Hilton, L G, Garland, R H, Traina, S B, Shekelle, P G
Publicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (2005)
Obter o texto integralPublicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (2005)
Obter o texto integral
Artigo