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Por Balk, E, Chung, M, Lichtenstein, A, Chew, P, Kupelnick, B, Lawrence, A, DeVine, D, Lau, J
Publicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (2004)
Obter o texto integralPublicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (2004)
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Artigo
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Por Lyn, D, Cherney, B W, Lalande, M, Berenson, J R, Lichtenstein, A, Lupold, S, Bhatia, K G, Smulson, M
Publicado em 1993
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Artigo
17
Por Hausoel, A., Karolak, M., Şaşιoğlu, E., Lichtenstein, A., Held, K., Katanin, A., Toschi, A., Sangiovanni, G.
Publicado no Nat Commun (2017)
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Artigo
18
Por Meydani, S N, Lichtenstein, A H, Cornwall, S, Meydani, M, Goldin, B R, Rasmussen, H, Dinarello, C A, Schaefer, E J
Publicado em 1993
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Artigo
19
Por Leonov, I., Poteryaev, A. I., Gornostyrev, Yu. N., Lichtenstein, A. I., Katsnelson, M. I., Anisimov, V. I., Vollhardt, D.
Publicado em 2014
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Artigo
20
Por Jordan, H, Matthan, N, Chung, M, Balk, E, Chew, P, Kupelnick, B, DeVine, D, Lawrence, A, Lichtenstein, A, Lau, J
Publicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (2004)
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Artigo