Estudio de la morfología superficial e índice de refracción en películas nanométricas de silicio poroso

Por R. Peña Sierra, R. G. Romero Paredes, G. Aguila Rodríguez
Publicado no Superficies y vacío (2001)

FTIR and photoluminescence studies of porous silicon layers oxidized in controlled water vapor conditions

Por M.A. Vásquez-A., G. Águila Rodríguez, G. Romero-Paredes, R. Peña-Sierra, G. García-Salgado
Publicado no Revista Mexicana de Física (2007)

CO2 measurement system based on pyroelectric detector

Por G. Aguila Rodríguez, J.J.A. Flores Cuautle, I. Herrera Aguilar, A. Martinez Sibaja, B.E. Gonzalez Sanchez, O.O. Sandoval Gonzalez
Publicado no Revista Mexicana de Física (2016)