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Medida de la eficiencia de difracción fotorrefractiva como función del vector onda de la red en un cristal Bi12TiO20

Se analiza el comportamiento experimental de la eficiencia de difracción de un registro holográfico en cristales fotorrefractivos silenitas. En particular, los cristales fotorrefractivos (PRCs) son ampliamente usados para el registro holográfico debido a que en ellos se puede registrar y borrar con...

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Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Gepubliceerd in:Bistua: Revista de la Facultad de Ciencias Básicas
Hoofdauteurs: Martha Lucía Molina Prado, Vladimir Jerez, María del C. Lasprilla
Formaat: Artigo
Taal:Espanhol
Gepubliceerd in: Universidad de Pamplona 2011
Onderwerpen:
Online toegang:https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=90322644012
Tags: Voeg label toe
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