Estudio de Confiabilidad en Diodos Basados en AlGaN/GaN Durante el Estado de Encendido

Este trabajo tiene como objetivo estudiar la degradación de los diodos de barrera Schottky (SBD) con una terminación de borde cerrado (GET) bajo condiciones de estrés en estado de encendido en tecnologías de 200V y 650V. Después de todos los experimentos de estrés, se observa un comportamiento recup...

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Detalhes bibliográficos

Publicado no:	Revista Politécnica
Principais autores:	Eliana Acurio, Lionel Trojman, Brice De-Jaeger, Benoit Bakeroot
Formato:	Artigo
Idioma:	Espanhol
Publicado em:	Escuela Politécnica Nacional 2022
Assuntos:	Ingeniería
Acesso em linha:	https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=688772225003 https://www.redalyc.org/journal/6887/688772225003/ https://www.redalyc.org/journal/6887/688772225003/html/ https://www.redalyc.org/journal/6887/688772225003/688772225003.epub https://www.redalyc.org/journal/6887/688772225003/movil
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