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XPS, DRUV-VIS and ESR characterization of the non-stoichiometric compound Ge0.74 V0.21 0.05 O2

Microcrystalline powders of the nonstoichiometric Ge 0 . 74 V 0 . 21 § 0 . 05 O 2 compound were prepared by conventional high temperature solid- state reactions. The powders were characterized by X-ray diffraction (XRD); scanning electron microscopy (SEM); X-ray photoelectron spectroscopy (XPS); di...

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Detalhes bibliográficos
Publicado no:Revista Mexicana de Física
Main Authors: J.L. Boldú, J. Barreto, I. Rosales, E. Orozco, L. Bucio
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: Sociedad Mexicana de Física A.C. 2017
Assuntos:
SEM
XPS
VIS
ESR
Acesso em linha:https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=57050054010
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