MÉTRICAS DE SIMILITUD APLICADAS PARA ANÁLISIS DE IMÁGENES DE FOTOELASTICIDAD
La mayoría de los trabajos realizados en el campo de la fotoelasticidad se han centrado en el estudio de la distribución deesfuerzos en materiales birrefringentes de espesor definido debido a la complejidad que presenta la relación entre el espesor del material,los índices de refracción y el retardo...
Αποθηκεύτηκε σε:
| Εκδόθηκε σε: | Dyna |
|---|---|
| Κύριοι συγγραφείς: | , , |
| Μορφή: | Artigo |
| Γλώσσα: | Espanhol |
| Έκδοση: |
Universidad Nacional de Colombia
2013
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=49627363006 |
| Ετικέτες: |
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|