Estimación de la conductividad térmica a partir de mediciones eléctricas usando la ley de Wiedemann-Franz para películas delgadas de tungsteno
Usando RF sputtering se depositaron películas delgadas de tungsteno sobre sustratos de vidrio variando la presión de argón de 5 a 35 mTorr. Se determinaron experimentalmente en un sistema Hall las propiedades eléctricas de las muestras, encontrándose concentraciones de portadores del orden de 1022 h...
Đã lưu trong:
| Xuất bản năm: | Ingeniería |
|---|---|
| Những tác giả chính: | , , , |
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Espanhol |
| Được phát hành: |
Universidad Autónoma de Yucatán
2019
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=46761359001 https://www.redalyc.org/journal/467/46761359001/ https://www.redalyc.org/journal/467/46761359001/html/ https://www.redalyc.org/journal/467/46761359001/46761359001.epub https://www.redalyc.org/journal/467/46761359001/movil |
| Các nhãn: |
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
