Electrical Resistivity in Non-stoichiometric MoO2

MoO y with 1.85 ≤ y ≤ 2.20 has been studied by X-ray diffractometry and photoemission spectroscopy at room tem- perature and by electrical resis tance as a function of temperature from 2 to 300 K. Although X-ray diffractograms are very sim- ilar to the stoichiometric MoO 2 with monoclinic structure...

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Detalhes bibliográficos
Publicado no:Brazilian Journal of Physics
Main Authors: L. M. S. Alves, S. S. Benaion, C. M. Romanelli, C. A. M. dos Santos, M. S. da Luz, B. S. de Lima, F. S. Oliveira, A. J. S. Machado, E. B. Guedes, M. Abbate, R. J. O. Mossanek
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: Sociedade Brasileira de Física 2015
Assuntos:
Física, Astronomía y Matemáticas
Oxides
Electrical properties
Photoelectron spectroscopy
Acesso em linha:https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=46438835007
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