AUTOMATIZACIÓN DEL PROCESO DE MEDICIONES CON EL PATRÓN DE MEDICIÓN FLUKE 5790A
Este artículo contiene una breve descripción de cómo adquirir una gran cantidad de datos de un equipo de medición digital con la mayor calidad y en el menor tiempo posible. Para esto se desarrolló SoftCal 5790 1.0, utilizando un lenguaje de programación gráfico: la plataforma LabVIEW, de National In...
保存先:
| 出版年: | Boletín Científico Técnico INIMET |
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| 主要な著者: | , |
| フォーマット: | Artigo |
| 言語: | Espanhol |
| 出版事項: |
Instituto Nacional de Investigaciones en Metrología
2012
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| 主題: | |
| オンライン・アクセス: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=223026402003 |
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