Načítá se...

Determining amplitude and tilt of a lateral force microscopy sensor

In lateral force microscopy (LFM), implemented as frequency-modulation atomic force microscopy, the tip oscillates parallel to the surface. Existing amplitude calibration methods are not applicable for mechanically excited LFM sensors at low temperature. Moreover, a slight angular offset of the osci...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:Beilstein J Nanotechnol
Hlavní autoři: Gretz, Oliver, Weymouth, Alfred J, Holzmann, Thomas, Pürckhauer, Korbinian, Giessibl, Franz J
Médium: Artigo
Jazyk:Inglês
Vydáno: Beilstein-Institut 2021
Témata:
On-line přístup:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC8182685/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/34136327
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3762/bjnano.12.42
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!