Đang tải...
Determining amplitude and tilt of a lateral force microscopy sensor
In lateral force microscopy (LFM), implemented as frequency-modulation atomic force microscopy, the tip oscillates parallel to the surface. Existing amplitude calibration methods are not applicable for mechanically excited LFM sensors at low temperature. Moreover, a slight angular offset of the osci...
Đã lưu trong:
| Xuất bản năm: | Beilstein J Nanotechnol |
|---|---|
| Những tác giả chính: | , , , , |
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
Beilstein-Institut
2021
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC8182685/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/34136327 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3762/bjnano.12.42 |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|