Načítá se...
Determining amplitude and tilt of a lateral force microscopy sensor
In lateral force microscopy (LFM), implemented as frequency-modulation atomic force microscopy, the tip oscillates parallel to the surface. Existing amplitude calibration methods are not applicable for mechanically excited LFM sensors at low temperature. Moreover, a slight angular offset of the osci...
Uloženo v:
| Vydáno v: | Beilstein J Nanotechnol |
|---|---|
| Hlavní autoři: | , , , , |
| Médium: | Artigo |
| Jazyk: | Inglês |
| Vydáno: |
Beilstein-Institut
2021
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC8182685/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/34136327 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3762/bjnano.12.42 |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|