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Correction for Jin et al., Microstructural origin of resistance–strain hysteresis in carbon nanotube thin film conductors
Guardado en:
| Publicado en: | Proc Natl Acad Sci U S A |
|---|---|
| Formato: | Artigo |
| Lenguaje: | Inglês |
| Publicado: |
National Academy of Sciences
2021
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC8072230/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/33846266 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1073/pnas.2103608118 |
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