Candidate Genes and Quantitative Trait Loci for Grain Yield and Seed Size in Durum Wheat

Grain yield (YLD) is affected by thousand kernel weight (TKW) which reflects the combination of grain length (GL), grain width (GW) and grain area (AREA). Grain weight is also influenced by heading time (HT) and plant height (PH). To detect candidate genes and quantitative trait loci (QTL) of yield...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Xuất bản năm:Plants (Basel)
Những tác giả chính: Mangini, Giacomo, Blanco, Antonio, Nigro, Domenica, Signorile, Massimo Antonio, Simeone, Rosanna
Định dạng: Artigo
Ngôn ngữ:Inglês
Được phát hành: MDPI 2021
Những chủ đề:
Article
Truy cập trực tuyến:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7916090/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/33562879
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3390/plants10020312
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!

Những quyển sách tương tự