Đang tải...
Candidate Genes and Quantitative Trait Loci for Grain Yield and Seed Size in Durum Wheat
Grain yield (YLD) is affected by thousand kernel weight (TKW) which reflects the combination of grain length (GL), grain width (GW) and grain area (AREA). Grain weight is also influenced by heading time (HT) and plant height (PH). To detect candidate genes and quantitative trait loci (QTL) of yield...
Đã lưu trong:
| Xuất bản năm: | Plants (Basel) |
|---|---|
| Những tác giả chính: | , , , , |
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
MDPI
2021
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7916090/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/33562879 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3390/plants10020312 |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|