Φορτώνει......
High-resolution cryo-EM using beam-image shift at 200 keV
Recent advances in single-particle cryo-electron microscopy (cryo-EM) data collection utilize beam-image shift to improve throughput. Despite implementation on 300 keV cryo-EM instruments, it remains unknown how well beam-image-shift data collection affects data quality on 200 keV instruments and th...
Αποθηκεύτηκε σε:
| Τόπος έκδοσης: | IUCrJ |
|---|---|
| Κύριοι συγγραφείς: | , , , |
| Μορφή: | Artigo |
| Γλώσσα: | Inglês |
| Έκδοση: |
International Union of Crystallography
2020
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7642776/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/33209328 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S2052252520013482 |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|