Ładuje się......

Direct measurement and correction of both megavoltage and kilovoltage scattered x‐rays for orthogonal kilovoltage imaging subsystems with dual flat panel detectors

PURPOSE: To measure the scattered x‐rays of megavoltage (MV) and kilovoltage (kV) beams (MV scatter and kV scatter, respectively) on the orthogonal kV imaging subsystems of Vero4DRT. METHODS: Images containing MV‐ and kV‐scatter from another source only (i.e., MV‐ and kV‐scatter maps) were acquired...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Wydane w:J Appl Clin Med Phys
Główni autorzy: Iramina, Hiraku, Nakamura, Mitsuhiro, Mizowaki, Takashi
Format: Artigo
Język:Inglês
Wydane: John Wiley and Sons Inc. 2020
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7497931/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/32710529
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1002/acm2.12986
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!