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Correction to: Test-retest reliability of the computer-assisted DIA-X-5 interview for mental disorders

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Detalhes bibliográficos
Publicado no:BMC Psychiatry
Main Authors: Hoyer, Jana, Voss, Catharina, Strehle, Jens, Venz, John, Pieper, Lars, Wittchen, Hans-Ulrich, Ehrlich, Stefan, Beesdo-Baum, Katja
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: BioMed Central 2020
Assuntos:
Acesso em linha:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7346456/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/32646488
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1186/s12888-020-02762-2
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