تحميل...
Towards fully integrated photonic displacement sensors
The field of optical metrology with its high precision position, rotation and wavefront sensors represents the basis for lithography and high resolution microscopy. However, the on-chip integration—a task highly relevant for future nanotechnological devices—necessitates the reduction of the spatial...
محفوظ في:
| الحاوية / القاعدة: | Nat Commun |
|---|---|
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , |
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
Nature Publishing Group UK
2020
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7283363/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/32518320 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/s41467-020-16739-y |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|