Ładuje się......

Dissection of Superior Alleles for Yield-Related Traits and Their Distribution in Important Cultivars of Wheat by Association Mapping

Uncovering the genetic basis of yield-related traits is important for molecular improvement of wheat cultivars. In this study, a genome-wide association study was conducted using the wheat 55K genotyping assay and a diverse panel of 384 wheat genotypes. The accessions used included 18 founder parent...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Wydane w:Front Plant Sci
Główni autorzy: Li, Xiaojun, Xu, Xin, Liu, Weihua, Li, Xiuquan, Yang, Xinming, Ru, Zhengang, Li, Lihui
Format: Artigo
Język:Inglês
Wydane: Frontiers Media S.A. 2020
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7061769/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/32194592
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3389/fpls.2020.00175
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!