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The Control of Crack Arrays in Thin Films

Thin-film fracture can be used as a nano-fabrication technique but, generally, it is a stochastic process that results in non-uniform patterns. Crack spacings depend on the interaction between intrinsic flaw populations and the fracture mechanics of crack channeling. Geometrical features can be used...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:J Mater Sci
Hauptverfasser: Huang, Jiexi, Kim, Byoung Choul, Takayama, Shuichi, Thouless, M. D.
Format: Artigo
Sprache:Inglês
Veröffentlicht: 2013
Schlagworte:
Online Zugang:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6734563/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/31507306
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1007/s10853-013-7700-3
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