Ładuje się......
Focus characterization of the NanoMAX Kirkpatrick–Baez mirror system
The focusing and coherence properties of the NanoMAX Kirkpatrick–Baez mirror system at the fourth-generation MAX IV synchrotron in Lund have been characterized. The direct measurement of nano-focused X-ray beams is possible by scanning of an X-ray waveguide, serving basically as an ultra-thin slit....
Zapisane w:
| Wydane w: | J Synchrotron Radiat |
|---|---|
| Główni autorzy: | , , , , , , , |
| Format: | Artigo |
| Język: | Inglês |
| Wydane: |
International Union of Crystallography
2019
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6613126/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/31274441 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S1600577519003886 |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|