Hu, B., Ochoa, E. D., Sanchez, D., Perron, J. K., Zimmerman, N. M., & Stewart, M. D. (2018). Effect of device design on charge offset drift in Si/SiO(2) single electron devices. J Appl Phys.
Citação norma ChicagoHu, Binhui, Erick D. Ochoa, Daniel Sanchez, Justin K. Perron, Neil M. Zimmerman, and M. D. Stewart. "Effect of Device Design On Charge Offset Drift in Si/SiO(2) Single Electron Devices." J Appl Phys 2018.
Citação norma MLAHu, Binhui, et al. "Effect of Device Design On Charge Offset Drift in Si/SiO(2) Single Electron Devices." J Appl Phys 2018.
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma.