Đang tải...

Pushing the boundaries of total scattering methods

Atomic pair distribution (PDF) analysis has proven to be an exceptionally robust tool for probing the structure of amorphous, crystalline and crystallographically challenged materials. This issue of IUCrJ features a significant step forward in X-ray PDF methodology for thin films, with substantial i...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Xuất bản năm:IUCrJ
Tác giả chính: Koch, Robert J.
Định dạng: Artigo
Ngôn ngữ:Inglês
Được phát hành: International Union of Crystallography 2019
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6400198/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/30867912
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S2052252519002847
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!