Đang tải...
Dealing with image shifting in 3D ToF-SIMS depth profiles
The high sputter efficiency and low damage of gas cluster ion beams have enabled depth profiling to greater depths within organic samples using time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS). Due to the typically fixed geometry of the ion sources used in ToF-SIMS, as one digs into a surfa...
Đã lưu trong:
| Xuất bản năm: | Biointerphases |
|---|---|
| Những tác giả chính: | , |
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
American Vacuum Society
2018
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6125139/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/30185054 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1116/1.5041740 |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|