טוען...

Are Shorter Versions of the Positive and Negative Syndrome Scale (PANSS) Doable? A Critical Review

The Positive and Negative Syndrome Scale (PANSS) is a well-established assessment tool for measuring symptom severity in schizophrenia. Researchers and clinicians have been interested in the development of a short version of the PANSS that could reduce the burden of its administration for patients a...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
הוצא לאור ב:Innov Clin Neurosci
מחבר ראשי: Lindenmayer, Jean-Pierre
פורמט: Artigo
שפה:Inglês
יצא לאור: Matrix Medical Communications 2017
נושאים:
גישה מקוונת:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5788254/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/29410940
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!