تحميل...
In operando x-ray imaging of nanoscale devices: Composition, valence, and internal electrical fields
We introduce a method for directly imaging depletion layers in operando with elemental specificity and chemical speciation at sub–100 nm spatial resolution applicable to today’s three-dimensional electronic architectures. These typically contain complex, multicomponent designs consisting of epitaxia...
محفوظ في:
| الحاوية / القاعدة: | Sci Adv |
|---|---|
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , |
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
American Association for the Advancement of Science
2017
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5722647/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/29226247 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1126/sciadv.aao4044 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|