Ładuje się......
Material property analytical relations for the case of an AFM probe tapping a viscoelastic surface containing multiple characteristic times
We explore the contact problem of a flat-end indenter penetrating intermittently a generalized viscoelastic surface, containing multiple characteristic times. This problem is especially relevant for nanoprobing of viscoelastic surfaces with the highly popular tapping-mode AFM imaging technique. By f...
Zapisane w:
| Wydane w: | Beilstein J Nanotechnol |
|---|---|
| Główni autorzy: | , |
| Format: | Artigo |
| Język: | Inglês |
| Wydane: |
Beilstein-Institut
2017
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5669240/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/29114450 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3762/bjnano.8.223 |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|