טוען...
Surface Sensitive Techniques for Advanced Characterization of Luminescent Materials
The important role of surface sensitive characterization techniques such as Auger electron spectroscopy (AES), X-ray photo electron spectroscopy (XPS), time of flight scanning ion mass spectrometry (TOF-SIMS) and High resolution transmission electron microscopy (HRTEM) for the characterization of di...
שמור ב:
| הוצא לאור ב: | Materials (Basel) |
|---|---|
| מחבר ראשי: | |
| פורמט: | Artigo |
| שפה: | Inglês |
| יצא לאור: |
MDPI
2017
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5578272/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/28777357 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3390/ma10080906 |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|